Biblioteca122.294 documentos en línea

Artículo

A Fast Postprocessing Algorithm for the Overlapping Problem in Wafer Map DetectionAlgoritmo rápido de posprocesamiento para el problema de solapamiento en la detección de mapas de obleas

Resumen

Los defectos mixtos son cada vez más populares en la detección de defectos y una de las áreas de investigación más candentes en los mapas de obleas. Los métodos de postprocesado utilizados para resolver el problema de solapamiento en los defectos mixtos masivos tienen una velocidad de detección deficiente, lo que resulta insuficiente para la detección rápida de defectos. En este artículo, se propone el método de supresión no máxima rápida y suave (fs-NMS) para resolver este problema. La puntuación de la casilla de detección se actualiza optimizando la función de distribución de penalizaciones. Además, se analiza el rendimiento del método fs-NMS en la detección de defectos en obleas. Como penalización, se utiliza la función logística, y se realizan experimentos utilizando detectores de una y dos etapas. Los resultados finales muestran que, en comparación con el soft-NMS, la eficacia de los detectores de una y dos etapas aumenta una media del 9,63 y 21,72%, respectivamente.

  • Tipo de documento:
  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
  • Tamaño: Kb

Cómo citar el documento

Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.

Este contenido no est� disponible para su tipo de suscripci�n

Información del documento