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Low-Temperature Annealing Induced Amorphization in Nanocrystalline NiW Alloy FilmsAmorfización inducida por recocido a baja temperatura en películas nanocristalinas de aleación de NiW

Resumen

La amorfización inducida por el recocido en las películas delgadas de formación vítrea por pulverización catódica se observaba generalmente en la región del líquido superenfriado. Sin embargo, a partir de análisis de difracción de rayos X y microscopía electrónica de transmisión (MET), aquí demostramos que podría producirse una amorfización casi completa en películas nanocristalinas (NC) de aleación NiW por sputtering recocidas a una temperatura relativamente baja. Mientras que la sobresaturación del contenido de W causada por la formación de la fase Ni4W desempeñó un papel crucial en el proceso de amorfización de las películas de aleación NiW recocidas a 473 K durante 30 min, se produjo una amorfización casi completa tras el recocido adicional de la película durante 60 min. Se propuso la redistribución del volumen libre de las regiones amorfas a las regiones cristalinas como posible mecanismo subyacente a la amorfización casi completa observada en las aleaciones de NiW.

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