Durante la operación del microscopio de fuerza atómica en modo de tapping (TM-AFM), la separación entre la palanca y la superficie de la muestra es muy pequeña (varios nanómetros a micrómetros). Debido a la pequeña distancia de separación y la alta frecuencia de vibración, la fuerza de película de apriete debe considerarse en TM-AFM. Para explorar el mecanismo de amortiguación de la película de apriete en TM-AFM, se discuten de manera innovadora en este documento tres modelos simplificados teóricos de micro-palanca: punta de sonda, bola de sonda y sonda sin punta. Se realizan experimentos y simulaciones para validar los modelos teóricos. Es de gran importancia mejorar la calidad de imagen del microscopio de fuerza atómica.
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