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Squeeze Film Damping Effect on Different Microcantilever Probes in Tapping Mode Atomic Force MicroscopeEfecto de amortiguación de la película de compresión en diferentes sondas microcantilever en el microscopio de fuerza atómica en modo de golpeteo

Resumen

Durante la operación del microscopio de fuerza atómica en modo de tapping (TM-AFM), la separación entre la palanca y la superficie de la muestra es muy pequeña (varios nanómetros a micrómetros). Debido a la pequeña distancia de separación y la alta frecuencia de vibración, la fuerza de película de apriete debe considerarse en TM-AFM. Para explorar el mecanismo de amortiguación de la película de apriete en TM-AFM, se discuten de manera innovadora en este documento tres modelos simplificados teóricos de micro-palanca: punta de sonda, bola de sonda y sonda sin punta. Se realizan experimentos y simulaciones para validar los modelos teóricos. Es de gran importancia mejorar la calidad de imagen del microscopio de fuerza atómica.

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