En este artículo se comparan los resultados obtenidos mediante dos métodos de análisis de datos de dispersión de rayos X de ángulo pequeño para mezclas de polímeros semicristalinos. El primer método se basa en el uso de un modelado teórico para muestras isótropas y un posterior ajuste de curvas. El segundo es un método más familiar, basado en el cálculo de la función de correlación lineal unidimensional. El material experimental considerado para este propósito trata de una serie de mezclas semicristalinas de poli(fluoruro de vinilideno) y poli(metacrilato de metilo), con un contenido de PVDF que cubre el rango 50 wt%-100 wt%. Los resultados obtenidos por ambos métodos de cálculo se confrontan sistemáticamente con los grados de cristalinidad deducidos a partir de patrones de dispersión de rayos X de ángulo ancho.
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