Se presenta un enfoque eficiente para el análisis de antenas reflectoras conformadas en superficie y alimentadas de forma arbitraria. El campo cercano en un gran número de puntos de muestreo en la apertura del reflector se obtiene aplicando la Teoría Geométrica de la Difracción (GTD). Se ha desarrollado una nueva técnica denominada Puntos Maestros para reducir la complejidad de los cálculos de trazado de rayos. La combinación de la GTD y los Puntos Maestros reduce los requisitos de tiempo de este tipo de análisis. Para validar el nuevo enfoque, se han considerado varios reflectores y los efectos en el diagrama de radiación causados por el desplazamiento de la alimentación y la introducción de diferentes obstáculos en relación con geometrías simples y complejas. Los resultados de estos análisis se han comparado con los del Método de los Momentos (MoM).
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