Resumen

La composición elemental de las películas delgadas de NiFe electrodepositadas se analizó mediante emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE). Las películas finas se electrodepositaron sobre sustratos policristalinos de Au a partir de una solución de 100 mM NiSO4, 10 mM FeSO4, 0,5 M H3BO3 y 1 M Na2SO4. Se analizaron los espectros PIXE de estas películas para obtener las cantidades relativas de Ni y Fe en función del potencial de deposición y del tiempo de deposición. Los resultados muestran que la PIXE puede medir el metal total depositado en una muestra en al menos cuatro órdenes de magnitud con incertidumbres fraccionarias similares. La técnica también es lo suficientemente sensible como para observar las variaciones en la composición de la aleación debidas a la no uniformidad de la muestra o a variaciones en los parámetros de deposición.

• Materias:Catálisis Electroquímica Electrodos Voltamperometría Biosensor electroquímico Biosensores
• Subjects:Catalysis Electrochemistry Electrodes Voltammetry Electrochemical biosensor Biosensors
• Palabras claves:películas delgadas, sustratos policristalinos de Au, incertidumbres fraccionales similares, PIXE, variaciones, M H3BO3, espectros PIXE, composición de la aleación, parámetros de deposición, potencial de deposición
• Keywords:thin films, polycrystalline Au substrates, similar fractional uncertainties, PIXE, variations, M H3BO3, PIXE spectra, alloy composition, deposition parameters, deposition potential