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On Analysis of Topological Properties for Terbium IV Oxide via Enthalpy and Entropy MeasurementsAnálisis de las propiedades topológicas del óxido de terbio IV mediante medidas de entalpía y entropía

Resumen

Se ha establecido una relación entre los índices topológicos y las propiedades termodinámicas del óxido de terbio IV utilizando un método racional, ya que se ha encontrado el método más eficiente basado en el error cuadrático medio (ECM). El óxido de terbio IV tiene una enorme aplicación como aislante en tecnologías modernas como la microelectrónica, los detectores de gas y los luminíferos debido a su estabilidad mecánica y térmica, su elevada constante dieléctrica, su resistencia a la radiación y su conductividad eléctrica variable. El grafo químico y los índices topológicos han atraído a la comunidad investigadora debido a su potencial aplicación en matemáticas discretas, biología y química. Nuestro compromiso es investigar los índices topológicos y las propiedades termodinámicas del óxido de terbio IV que dependen de un innovador utilitario de datos. Además, se ha establecido una relación entre los índices topológicos y el ajuste de curvas como punto de vista de la aplicación. Todos los ajustes de curvas se han encontrado utilizando el software MATLAB.

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