Obtenga beneficios adicionales
Aún no tiene una suscripción a Virtual Pro?
Para acceder a este contenido se requiere una suscripción
Obtenga beneficios adicionales
Aún no tiene una suscripción a Virtual Pro?
Para acceder a este contenido se requiere una suscripción
La microscopía electrónica de barrido polarizada por espín (spin SEM) es un método para observar estructuras de dominios magnéticos mediante la detección de la polarización de espín de los electrones secundarios. Tiene varias capacidades únicas, como la detección de la orientación completa de la magnetización y la medición de alta resolución espacial. Varios experimentos de spin-SEM han demostrado que es un método prometedor para estudiar diversos tipos de materiales y dispositivos magnéticos. Este artículo de revisión presenta varias observaciones de spin-SEM para demostrar la capacidad y el potencial del spin SEM.
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
Artículo:
Método de estimación rápida de los parámetros de posicionamiento bidimensional espacio-temporal basado en el producto de Hadamard
Artículo:
El variador de velocidad como método de arranque ideal para motores eléctricos de inducción
Artículo:
Detección de cortocircuito en el devanado de un motor sincrónico de imanes permanentes usando corriente de secuencia negativa en dominio tiempo
Artículo:
Investigación sobre la influencia del error de cuantificación de la antena de matriz en fase de ondas milimétricas
Artículo:
Algoritmo de dimensión reducida para la estimación del DOA de señales no circulares
Virtual Pro es un portal virtual de formación, investigación y comunicación especializado en procesos industriales.
� 2021, Virtual Pro �, una marca de Grupo INGCO. Todos los derechos reservados
