Se estudiaron las variaciones de un sensor de resonancia de plasmón superficial (SPR) de Au basado en la estructura de Kretschmann de óxido de estaño y Ag-indio (ITO) para mejorar su sensibilidad. Se optimizó la estructura del sensor y se estudiaron sus características mediante simulaciones numéricas. La estructura del chip, compuesta por 20 nm de Ag/30 nm de ITO/10 nm de Au, obtuvo el mejor rendimiento de detección, con una sensibilidad angular de 197,6° RIU-1 y una figura de mérito de 43,4 RIU-1. Estos parámetros de rendimiento son casi tres veces superiores a los del sensor SPR. Estos parámetros de rendimiento son casi tres veces superiores a los de los sensores de resonancia bimetálicos de Ag/Au. Además, se incorporaron una capa adhesiva de Cr y grafeno bidimensional a esta estructura de sensor para explorar su impacto en el rendimiento. Los resultados demostraron que la capa de Cr debilitaba significativamente el rendimiento del sensor, mientras que el grafeno no producía el efecto de mejora esperado en esta estructura. Si la simple adición de una capa a un sensor de Au/Ag puede multiplicar por tres su rendimiento, sus beneficios económicos y científicos son potencialmente importantes y generalizados.
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