La caracterización de las propiedades dieléctricas de un material requiere una técnica de medición y su método de análisis asociado. En este trabajo, se analiza la configuración que implica dos sondas coaxiales con un material para la medición dieléctrica entre ellas con un enfoque de coincidencia de modos. Para tal efecto, se proponen dos modelos con diferente complejidad y particularidades. Se mostrará cómo la convergencia se acelera para obtener resultados precisos al utilizar una elección adecuada de modos de orden superior junto con una combinación de condiciones de contorno de pared eléctrica perfecta y pared magnética perfecta. También se mostrará cómo la respuesta en frecuencia se ve afectada por el tamaño del montaje del brida, lo cual puede ser tenido en cuenta de manera rigurosa y eficiente con el mismo tipo de enfoque. Este estudio numérico se valida a través de una amplia gama de simulaciones con valores de referencia de otro método, mostrando cómo los enfoques propuestos pueden ser utilizados para la caracterización de banda ancha de esta configuración de medición di
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