Resumen

Se ha realizado un análisis elipsométrico de las películas de CdTe crecidas sobre sustratos de Si y CdHgTe en la configuración de vacío de la epitaxia de "pared caliente". Se ha encontrado que el cálculo de los datos elipsométricos llevado a cabo utilizando un modelo simple de película de una capa conduce a una distorsión radical de los espectros de las constantes ópticas: este hecho autentifica la necesidad de atraer un modelo más complicado que debe incluir la heterogeneidad de las películas. El cálculo de los datos elipsométricos dentro de un modelo de película de dos capas permitió concluir que las películas de teluro de cadmio tienen una capa exterior que consiste en la mezcla de tres componentes de CdTe, cavidades y óxido de materia básica. La proporción de los componentes de la mezcla depende del tiempo de deposición, es decir, del espesor de la película. La capa interior está formada por teluro de cadmio.

• Materias:Aluminio Propiedades fisicoquímicas Hidráulica Agua Ingenierí­a hidráulica Soldadura Hidróxido de aluminio
• Subjects:Aluminum Chemicophysical properties Hydraulics Water Hydraulic engineering Welding Aluminum hydroxide
• Palabras claves:modelo de película de capa, cálculo de datos elipsométricos, configuración de vacío de epitaxia, espectro de constante óptica, película de teluro de cadmio, mezcla de cdte, óxido de materia básica, proporción de la mezcla, tiempo de deposición, heterogeneidad de la película
• Keywords:layer film model, ellipsometric data calculation, epitaxy vacuum setup, optical constant spectrum, cadmium telluride film, mixture of cdte, basic matter oxide, ratio of mixture, time of deposition, heterogeneity of film