Resumen

El sistema de microscopio electrónico de barrido/espectrómetro de dispersión de energía de rayos X (SEM/EDS) se aplica ampliamente a minerales de tierras raras (REM) para describir cualitativamente su mineralogía y determinar cuantitativamente su composición. El rendimiento del análisis estadístico multivariante en el conjunto de datos crudos de EDS puede mejorar la eficiencia y la precisión de la identificación de fases. En este trabajo, se realizaron el análisis de componentes principales (PCA) y los algoritmos de separación de fuentes ciegas (BSS) en un mapa de EDS de una muestra de REM, lo que ayudó a lograr un análisis eficiente del mapa de fases. El PCA limpió significativamente el mapa de fases y se utilizó como paso de preprocesamiento para el siguiente BSS. El BSS separó las señales mixtas de EDS en un conjunto de componentes físicamente interpretables, facilitando la separación e identificación de fases. A través de la comparación entre el análisis de component

• Materias:Modelo esférico Aleaciones Efecto de amortiguación Membranas bioabsorbibles Adhesión de Nanopartículas
• Subjects:Spherical model Alloys Buffering effect Bioabsorbable membranes Nanoparticle adhesion
• Palabras claves:Microscopio electrónico de barrido; Espectrómetro de dispersión de energía de rayos X; SEM/EDS; Minerales de tierras raras; Análisis estadístico multivariante; Análisis de componentes principales
• Keywords:Scanning electron microscope; X-ray energy dispersive spectrometer; SEM/EDS; Rare earth minerals; Multivariate statistical analysis; Principal component analysis