Resumen

Este trabajo ha sido motivado por la urgente necesidad de caracterizar de forma precisa y completa patrones consistentes en disposiciones casi peridicas de caractersticas especficas (zanjas, protuberancias, agujeros, picos, etc.) ampliamente utilizadas en las industrias de la nanotecnologa, la microelectrnica y la fotnica. La caracterizacin cuantitativa de estas estructuras superficiales exige mtodos matemticos capaces de revelar tanto los aspectos a escala de periodo como de rasgo. Dado que los enfoques convencionales (transformada de Fourier o wavelet) se limitan a la caracterizacin de la periodicidad o de la escala de rasgos, nuestro trabajo contribuye con la propuesta de una transformacin que combina los mritos de Fourier y wavelet para cuantificar simultneamente el periodo y la escala de rasgos de un patrn superficial peridico o casi peridico. El resultado de nuestro estudio ha sido (a) una investigacin detallada de las propiedades matemticas de la transformada periodo-escala (PST) propuesta junto con su relacin con otras transformadas bien conocidas, (b) una presentacin de algunos ejemplos de PST de superficies peridicas 1D modelo para identificar sus ventajas, y (c) las primeras aplicaciones de la PST en perfiles reales extrados de superficies polimricas experimentales despus del tratamiento con plasma.

• Materias:Algoritmos (Matemáticas) Algebra Ingeniería Lógica matemática Matemáticas
• Subjects:Agorithms (Math) Algebra Engineering Mathematical logic mathematics
• Palabras claves:Urgente; Disposiciones casi periódicas; Nanotecnología; Microelectrónica; Fotónica; Transformación a escala periódica
• Keywords:Urgent; Almost periodic arrangements; Nanotechnology; Microelectronics; Photonics; Period-scale transform