Resumen

Se considera el análisis multirresolución para problemas que implican campos de parámetros aleatorios. El campo aleatorio se discretiza mediante una expansión de Karhunen-Loève. Las funciones propias implicadas en esta representación se calculan mediante una expansión wavelet. La expansión wavelet permite controlar la resolución espacial del problema. Se definen escalas finas y gruesas, y las escalas finas se tienen en cuenta mediante operadores de proyección. Se documenta la influencia del nivel de truncamiento de la expansión wavelet en la fiabilidad calculada.

• Materias:Análisis Matemático Álgebra Ingeniería Matemática aplicada Lógica matemática
• Subjects:Mathematical Analysis Algebra Engineering Applied Mathematics Mathematical logic
• Palabras claves:expansión wavelet, campos de parámetros aleatorios, expansión loève, análisis multirresolución, escalas gruesas, fiabilidad calculada, escalas finas, operadores de proyección, campo aleatorio, resolución espacial
• Keywords:wavelet expansion, random parameter fields, loève expansion, multiresolution analysis, coarse scales, computed reliability, fine scales, projection operators, random field, spatial resolution