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XPS, FTIR, EDX, and XRD Analysis of AlO Scales Grown on PM2000 AlloyAnálisis XPS, FTIR, EDX y DRX de escamas de AlO crecidas en la aleación PM2000

Resumen

Este trabajo es un ejemplo original para comparar los resultados obtenidos después de la calcinación de hidróxidos de AlO y la oxidación de aleaciones formadoras de alúmina. Se obtuvieron firmas FTIR y XPS para diversas temperaturas de oxidación y se compararon con las conocidas en la literatura sobre la calcinación de precursores de AlO. El objetivo de este trabajo es evaluar el uso de la espectroscopía IR y el análisis XPS para sondear las variedades estructurales de AlO. Con este objetivo, se realizó un estudio de la oxidación de PM2000 a varias temperaturas mediante DRX, espectroscopía IR, análisis XPS, análisis EDX y observaciones SEM. Esto nos permitió diferenciar claramente la transición AlO de la -AlO y, entre la transición AlO, diferenciar la característica del espectro IR de las fases - de la fase .

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