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A Correlative Defect Analyzer Combining Glide Test with Atomic Force MicroscopeUn Analizador de Defectos Correlativos que Combina la Prueba de Deslizamiento con un Microscopio de Fuerza Atómica

Resumen

Hemos desarrollado un instrumento novedoso que combina un probador de deslizamiento con un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) para pruebas y análisis de defectos en medios de unidades de disco duro (HDD). La muestra permanece en el mismo husillo de prueba durante tanto la prueba de deslizamiento como la imagen de AFM sin perder las coordenadas relevantes. Esto permite una evaluación in situ con el AFM de alta resolución de los defectos detectados por la prueba de deslizamiento. La capacidad para el análisis inmediato de seguimiento con AFM resuelve el problema de localizar los defectos de manera rápida y precisa en el flujo de trabajo actual. La herramienta está equipada con otras funciones como grabado, imagen óptica y pulido de cabezales. Los datos típicos generados por la herramienta se muestran al final del artículo. Además, se demuestra que se pueden llevar a cabo experimentos novedosos en la plataforma aprovechando las capacidades correlativas de la herramienta.

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