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Nonuniformly Loaded Stack of Antiplane Shear Cracks in One-Dimensional Piezoelectric QuasicrystalsApilamiento no uniforme de grietas de cizallamiento antiplano en cuasicristales piezoeléctricos unidimensionales

Resumen

Se derivan representaciones en forma cerrada, utilizando una extensión del método de las capas de dislocación, para los componentes de tensión y desplazamiento eléctrico de fonones y fason en la deformación de cuasicristales piezoeléctricos unidimensionales por una pila de grietas de cizallamiento antiplano no uniformemente cargadas. Se deduce su dependencia del ángulo polar en la región cercana a la punta de una grieta, y se deducen los factores de intensidad de campo. Éstos muestran que el fenómeno del apantallamiento de las grietas depende del espaciado relativo de las mismas. Los análisis análogos, que no se han dado anteriormente, que implican materiales no piezoeléctricos o no cuasicristalinos o simplemente elásticos pueden considerarse directamente como casos especiales. Incluso cuando la carga es uniforme y la grieta está incrustada en un sólido isotrópico puramente elástico, no se disponía antes de representaciones explícitas de las componentes del campo en puntos distintos de los situados directamente delante de la grieta. Los resultados numéricos típicos se muestran gráficamente.

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