Este trabajo aborda la aplicación del enfoque de prueba de configurabilidad analógica (ACT) para un circuito analógico configurable embebido (EACC), compuesto por amplificadores operacionales y recursos de interconexión que están embebidos en la familia de microcontroladores MSP430xG461x. Esta estrategia de prueba es especialmente útil para aplicaciones sobre el terreno que requieren características de fiabilidad, funcionamiento seguro o tolerancia a fallos. Nuestra propuesta de prueba consiste en programar un conjunto reducido de configuraciones disponibles para el EACC y probar su funcionalidad midiendo sólo unos pocos parámetros clave. El procesador ejecuta una rutina de prueba integrada que programa secuencialmente las configuraciones seleccionadas, establece el estímulo de prueba, adquiere datos del ADC interno y realiza los cálculos necesarios. El método de prueba se evalúa experimentalmente utilizando una placa de aplicación real basada en un sistema integrado. Nuestros resultados experimentales muestran una repetibilidad muy buena, con errores muy bajos. Estos resultados demuestran que el ACT aquí propuesto es útil para probar la funcionalidad del circuito bajo prueba en un contexto de aplicación real mediante el uso de una estrategia simple a un coste muy bajo.
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
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