Resumen

Se presentan cronológicamente las instalaciones de los modernos equipos de investigación del Instituto de Metales y Tecnología, haciendo hincapié en los microscopios electrónicos con técnicas analíticas y métodos espectroscópicos. Paralelamente a las técnicas analíticas, se hace hincapié en la importancia de los resultados para la industria, así como en su repercusión científica.

INTRODUCCIÓN

Desde su creación en 1948, el Instituto de Metales y Tecnología (IMT, anteriormente conocido como Instituto Metalúrgico, MIL) ha desempeñado un papel destacado en el campo de la caracterización de materiales. Las técnicas que permiten caracterizar los materiales son esenciales para los ingenieros y científicos, tanto en la investigación y el desarrollo como en el control y ensayo de materiales. Existen muchas técnicas, desde las más sencillas hasta las más sofisticadas, y la mayoría de ellas se implantaron en el IMT para la investigación muy pronto, siendo a menudo el IMT el primero de la región en empezar a utilizar algunas de estas técnicas.

Desde la creación del IMT en 1948, la metalografía óptica ha sido una de las técnicas más importantes utilizadas para caracterizar la estructura de los materiales revelando los límites de grano, los límites de fase, la distribución de inclusiones y la evidencia de deformación mecánica. El análisis de imágenes (el análisis cuantitativo de las propiedades geométricas) se implementó en el análisis de microestructuras para minimizar la influencia de la fatiga del operario, que reduce la reproducibilidad y la precisión de las mediciones manuales. Además, con la era de las cámaras digitales, el progreso en el análisis de imágenes ha dado un paso significativo.

El microanálisis por sonda de electrones (EPMA) nos permite combinar análisis estructurales y de composición en una sola operación [1-3].El primer microanálisis por sonda de electrones (EPMA) se demostró en la Universidad de París en 1948 [4].En1969, el primer EPMA de Yugoslavia empezó a funcionar en elIMT. Desde entonces, el IMT ha desempeñado un papel de liderazgo en los métodos ópticos de electrones en esta región. En 1977 se instaló en el IMT el primer microscopio electrónico de barrido (SEM). Era una fecha muy temprana, sobre todo si tenemos en cuenta que el primer SEM comercial se comercializó en 1965.  El primer microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de Eslovenia se instaló en el IMT en 2004. Un FEGSEM como fuente de electrones para espectroscopia de electrones Auger estaba en funcionamiento incluso antes, desde 1997. 

El primer espectrómetro de electrones Auger (AES) empezó a funcionar en el instituto IEVT de Liubliana en 1977, mientras que en el IMT se instaló un AES mejorado con análisis XPS en 1997.

• Materias:Microscopia electrónica Instrumentos de medición Equipo industrial
• Subjects:Electron microscopy Measuring instruments Industrial equipment
• Palabras claves:Microscopía electrónica; Microanálisis electrónico; Difracción de retrodispersión de electrones
• Keywords:Electron microscopy; Electron microanalysis; Electron-backscatter diffraction