Los nanomateriales funcionales poseen propiedades mecánicas, eléctricas y ópticas excepcionales que han beneficiado significativamente sus diversas aplicaciones en una variedad de problemas científicos y de ingeniería. Para comprender completamente sus características y guiar aún más su síntesis y aplicación en dispositivos, es necesario caracterizar de manera precisa y eficiente las propiedades multifísicas de estos nanomateriales. Entre las diversas herramientas experimentales para la caracterización de nanomateriales, las plataformas basadas en microscopía electrónica de barrido (SEM) ofrecen ventajas como alta resolución de imagen, precisión y estabilidad, condiciones de prueba bien controladas y compatibilidad con otras técnicas de caracterización de materiales de alta resolución (por ejemplo, microscopía de fuerza atómica), por lo tanto, se han desarrollado diversas técnicas habilitadas por SEM para caracterizar las propiedades multifísicas de los nanomateriales. En esta revisión, resumimos las plataformas existentes basadas en SEM para la caracterización multifísica (mecánica, eléctrica y electromec
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