Resumen

La  ventaja  del  uso  de  las  técnicas  interferométricas  basados  en  el  patrón  de  moteado  ESPI (electronic  speckle  pattern  interferometry)  es  única  ya  que  se  pueden  hacer  mediciones  muy precisas  de  los  campos  de  desplazamientos  que  ocurren  en  la  superficie  de  algún  elemento mecánico  cuando  se  deforma.  Sin  embargo,  cuando  se  utiliza  la  iluminación  divergente,  se observa  que la  medición  de  los  campos  de  desplazamientos  está  en  función  de  la  topografía  del objeto.  Por  tal  motivo,  antes  de  evaluar  las  deformaciones  mecánicas  por  la  técnica  ESPI  con iluminación  divergente  es  necesario  conocer  la  topografía  del  objeto.  La  estimación  de  la incertidumbre estándar de las mediciones de los campos de desplazamiento debe de contemplar la incertidumbre de las mediciones de la topografía que se propaga debido a la ley generalizada de la  propagación  de  la  incertidumbre.  En  este  trabajo  se muestra  el  uso  de  la  técnica  de  Monte Carlo  para  el  cálculo  de  la  incertidumbre  estándar  para  la  las  mediciones  de  los  campos  de desplazamiento  y  la  topografía  de  superficie  de  objetos  mediante  la  técnica  de  interferometría electrónica del patrón de moteado con iluminación dual y divergente.

• Materias:Topografía
• Subjects:Topography
• Palabras claves:Interferometría del patrón de moteado, ESPI,incertidumbre estándar; Monte Carlo
• Keywords:speckle interferometry, ESPI, standard uncertainty, Monte Carlo technique