Resumen

Se cultivaron películas delgadas de CaBi4Ti4O15 (CBTi144) sobre sustratos de Pt/Ti/SiO2/Si utilizando una solución química suave y un método de recubrimiento por rotación. La estructura y la morfología de las películas se caracterizaron mediante difracción de rayos X (DRX), espectroscopia de infrarrojos por transformada de Fourier (FT-IR), análisis Raman, espectroscopia de fotoemisión de rayos X (XPS) y microscopia electrónica de transmisión (TEM). Las películas presentan una única fase de perovskita estructurada en capas con orientación del eje polar. Se considera que la orientación del eje a/b de la película ferroeléctrica está asociada a la orientación preferente del electrodo inferior de Pt. Se emplearon mediciones XPS para comprender la naturaleza de los defectos en el comportamiento de retención de las películas CBTi144. Hemos observado que la principal fuente de la característica de ausencia de retención de los condensadores es el entorno de oxígeno en la red de CBTi144.

• Materias:Hidrógeno Polímeros Espectroscopí­a de rayos X Rayos X Dinámica de sistemas
• Subjects:Hydrogen Polymers X-ray spectroscopy X-ray System Dynamics
• Palabras claves:comportamiento del cbti144, orientación del eje polar, electrodo de fondo pt, soluciones químicas blandas, naturaleza de los defectos, espectroscopia de fotoemisión de rayos, fuente de retención, orientación preferida, métodos de recubrimiento, película fina
• Keywords:behavior of cbti144, polar axis orient, pt bottom electrode, soft chemical solutions, nature of defects, ray photoemission spectroscopy, source of retention, preferred orientation, coating methods, thin film