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La técnica de difracción de rayos X se utilizó para hacer una caracterización detallada de los minerales arcillosos presentes en la diatomita de un yacimiento que no había sido objeto de estudio ni exploración que permitiera determinar su potencial tanto minero como industrial, específicamente en el área piloto del sector Tunja-Chivatá (Boyacá).
1. INTRODUCCIÓN
La diatomita tiene gran importancia en la industria, como filtro, como material refractario, en fertilizantes, catalizadores químicos, pesticidas y otros. Este estudio se basa en la aplicación de la técnica de diffacción de rayos X a muestras obtenidas de un yacimiento de diatomita que no había sido objeto de estudio ni exploración que permitiera determinar su potencial tanto minero como industrial, específicamente en el área piloto del sector Tunja-Chivatá.
Para la caracterización general del yacimiento se tiene una primera fase que corresponde a la caracterización petrográfica, como parte de la caracterización mineralógica, y de cuyos resultados se identifican diatomeas y minerales como cuarzo, feldespatos, minerales arcillosos, agregados de óxidos e hidróxidos de Fe (gocthita). De tal forma, y siguiendo la metodología planteada, se realizan ensayos de difracción de rayos X.
Sabiendo de antemano el grado de complejidad que tiene la diferenciación de minerales arcillosos a nivel petrográfico, la técnica de difracción de rayos X permite de manera detallada hacer la caracterización de las distintas fases de los minerales, tales como la illita, esmectita y caolinita, como también determinar el grado de cristalización de ellos basados en el difractograma por las reflexiones estrechas y simétricas, lo cual Facilita el análisis de resultados de muestras producto del proceso de beneficio.
2. MÉTODO EXPERIMENTAL
Siguiendo el procedimiento de preparación para muestras orientadas, todas las partículas de los minerales arcillosos deben asentarse por sedimentación (agregados orientados) o Ser dispuestas paralelamente por espaciamiento (pasta orientada), así sus ejes A y B o sus planos ab quedarán paralelos al portaobjetos y todos los planos orientados paralelamente difractarán en el mismo momento.
Para este procedimiento se toma una muestra de aproximadamente 50 g y y se pulveriza. De esta forma se toman 10 g de la muestra para mezclarla y diluirla en 100 ml de agua destilada para luego ser agitada durante 15 minutos; después de agitada la muestra se coloca en una probeta de 100 ml por 50 minutos para que se decante y así garantizar que la fracción fina y orientada quede en la parte superior de la probeta; y con la pipeta se procede a extraer una muestra de esta introduciéndola 2 cm aprox, para luego colocarla sobre los portaobjetos (IGAC, 1995).
Esta es una versión de prueba de citación de documentos de la Biblioteca Virtual Pro. Puede contener errores. Lo invitamos a consultar los manuales de citación de las respectivas fuentes.
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