Resumen

Los óxidos multiferroicos han recibido mucha atención debido a que estos materiales presentan múltiples parámetros de orden ferroso (por ejemplo, polarización eléctrica en los ferroeléctricos, magnetización en los ferromagnéticos o deformación espontánea en los ferroelásticos) simultáneamente en la misma fase en un determinado intervalo de temperaturas, lo que ofrece una interesante forma de acoplamiento entre los parámetros de orden ferroso. Esto ofrece la posibilidad de construir nuevos tipos de dispositivos multifuncionales. Las estructuras de dominio multiferroicas en estos materiales se consideran un factor importante para mejorar la eficiencia y el rendimiento de los futuros dispositivos multiferroicos. Por lo tanto, las estructuras de dominio en óxidos multiferroicos se investigan ampliamente. Los recientes avances en las técnicas de caracterización de dominios, en particular la microscopía electrónica de transmisión (MET) con corrección de aberraciones, nos han permitido determinar las estructuras de dominio a escala subangstrom, y el reciente desarrollo de técnicas de MET in situ nos permite estudiar los comportamientos dinámicos de los dominios multiferroicos bajo campos aplicados o tensión mientras se obtiene una imagen directa de la estructura atómica. Este artículo ofrece una revisión de los avances recientes en la caracterización de las estructuras de dominio multiferroicas en óxidos multiferroicos, que se han logrado gracias al notable avance de la TEM con corrección de aberraciones.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanotecnología Bioingeniería Nanoestructuras Nanocompuestos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanotechnology Bioengineering Nanostructures Nanocomposites
• Palabras claves:estructuras de dominio multiferroicas, estructuras de dominio, óxidos multiferroicos, múltiples parámetros de orden ferroicos, cierto rango de temperaturas, técnicas de caracterización de dominios, parámetros de orden ferroicos, futuros dispositivos multiferroicos, técnicas in situ tem, microscopía electrónica de transmisión
• Keywords:multiferroic domain structures, domain structures, multiferroic oxides, multiple ferroic order parameters, certain temperature range, domain characterization techniques, ferroic order parameters, future multiferroic devices, situ tem techniques, transmission electron microscopy