Resumen

Hemos investigado la pureza y los defectos de los nanotubos de carbono de pared simple (SWCNT) producidos por diversos métodos sintéticos, como la deposición química de vapor, la descarga por arco y la ablación por láser. Las muestras de SWCNT se caracterizaron mediante microscopía electrónica de barrido (SEM), análisis termogravimétrico (TGA) y espectroscopía Raman. El análisis cuantitativo de las imágenes SEM sugirió que la intensidad Raman de la banda G sirve como índice de la pureza. Por el contrario, la relación entre la intensidad de la banda G y la banda D (relación G/D) refleja tanto la pureza como la densidad de defectos de los SWCNT. La combinación de la intensidad de la banda G y la relación G/D es útil para una evaluación rápida y no destructiva de la pureza y la densidad de defectos de una muestra de SWCNT.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanopartículas Nanocompuestos Nanocables
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanoparticles Nanocomposites Nanowires
• Palabras claves:pureza, relación d, densidad de defectos, intensidad de banda raman, deposición química de vapor, diversos métodos sintéticos, nanotubos de carbono de pared, swcnts, banda, análisis cuantitativo
• Keywords:purity, d ratio, defect density, band raman intensity, chemical vapor deposition, various synthetic methods, wall carbon nanotubes, swcnts, band, quantitative analysis