Resumen

Las propiedades físicas de los nanocompuestos que no pueden explicarse mediante leyes generales de mezcla suelen estar relacionadas con las interfases, altamente presentes a escala nanométrica. La constante dieléctrica intrínseca de la interfase y su volumen deben ser considerados en la predicción de la permitividad efectiva de los nanodieléctricos, por ejemplo. El microscopio de fuerza electrostática (EFM, por sus siglas en inglés) constituye una técnica prometedora para sondear localmente las interfases. Este trabajo informa sobre simulaciones teóricas de elementos finitos y mediciones experimentales para interpretar las señales de EFM frente a nanocompuestos con el objetivo de detectar y caracterizar las interfases. Según las simulaciones, diseñamos y sintetizamos muestras apropiadas para verificar experimentalmente la capacidad del EFM para caracterizar una nanoenvoltura que cubre nanopartículas, con diferentes grosores de envoltura. Este tipo de muestras constituye un modelo electrostático simplificado de un nanodiel

• Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
• Subjects:Electrodes Nanocomposites Nanomanipulation
• Palabras claves:Nanocompuestos; Interfases; Constante dieléctrica; Permitividad; Microscopio de fuerza electrostática; Simulaciones
• Keywords:Nanocomposites; Interphases; Dielectric constant; Permittivity; Electrostatic force microscope; Simulations