Resumen

En las últimas décadas, la microscopía electrónica de barrido (SEM) in situ se ha convertido en una técnica poderosa para el estudio experimental de nanomateriales de baja dimensionalidad (1D/2D), ya que puede proporcionar detalles sin precedentes sobre nanoestructuras individuales bajo estímulos mecánicos y eléctricos, y así descubrir los mecanismos fundamentales de deformación y falla para sus aplicaciones en dispositivos. En esta revisión, resumimos los recientes avances en las técnicas de caracterización mecánica y eléctrica basadas en SEM in situ, que incluyen pruebas de tracción, compresión, flexión y sondaje de propiedades eléctricas en nanoestructuras individuales, así como el análisis de acoplamiento electromecánico de última generación. Además, también se discutieron las ventajas y desventajas de las pruebas SEM in situ, con algunas posibles soluciones para abordar los desafíos. Además, también se discutieron desafíos críticos para el desarrollo y diseño de una plataforma de caracterización SEM in

• Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
• Subjects:Electrodes Nanocomposites Nanomanipulation
• Palabras claves:Nanomateriales; SEM in situ; Mecánica; Eléctrica; Caracterización; Nanoestructuras
• Keywords:Nanomaterials; In situ SEM; Mechanical; Electrical; Characterization; Nanostructures