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Recent Advances on In Situ SEM Mechanical and Electrical Characterization of Low-Dimensional NanomaterialsAvances recientes en la caracterización mecánica y eléctrica in situ por SEM de nanomateriales de baja dimensión

Resumen

En las últimas décadas, la microscopía electrónica de barrido (SEM) in situ se ha convertido en una técnica poderosa para el estudio experimental de nanomateriales de baja dimensionalidad (1D/2D), ya que puede proporcionar detalles sin precedentes sobre nanoestructuras individuales bajo estímulos mecánicos y eléctricos, y así descubrir los mecanismos fundamentales de deformación y falla para sus aplicaciones en dispositivos. En esta revisión, resumimos los recientes avances en las técnicas de caracterización mecánica y eléctrica basadas en SEM in situ, que incluyen pruebas de tracción, compresión, flexión y sondaje de propiedades eléctricas en nanoestructuras individuales, así como el análisis de acoplamiento electromecánico de última generación. Además, también se discutieron las ventajas y desventajas de las pruebas SEM in situ, con algunas posibles soluciones para abordar los desafíos. Además, también se discutieron desafíos críticos para el desarrollo y diseño de una plataforma de caracterización SEM in

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  • Formato:pdf
  • Idioma:Inglés
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Información del documento

  • Titulo:Recent Advances on In Situ SEM Mechanical and Electrical Characterization of Low-Dimensional Nanomaterials
  • Autor:Jiang, Chenchen; Lu, Haojian; Zhang, Hongti; Shen, Yajing; Lu, Yang
  • Tipo:Artículo
  • Año:2017
  • Idioma:Inglés
  • Editor:Hindawi
  • Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
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