Resumen

Para realizar un control de calidad completo de diferentes tecnologías de módulos de capa fina (a-Si, CdTe y CIS) se investigó una combinación de métodos rápidos y no destructivos. Las mediciones basadas en cámaras, como las tecnologías de electroluminiscencia (EL), fotoluminiscencia (PL) e infrarrojos (IR), ofrecen excelentes posibilidades para determinar fallos de producción o defectos en módulos solares que no pueden detectarse mediante mediciones de potencia estándar. Estos tipos de medición óptica proporcionan imágenes de alta resolución con una distribución bidimensional de los rasgos característicos de los módulos fotovoltaicos. Este artículo se centra en el control de calidad y la caracterización mediante imágenes EL, PL e IR con cámaras convencionales y una fuente de excitación alternativa para la configuración PL.

• Materias:Energía solar Fotoquímica Electrodos Nanoestructuras Biopelículas
• Subjects:Solar energy Photochemistry Electrodes Nanostructures Biofilms
• Palabras claves:diferentes tecnologías de módulos de capa fina, fuente de excitación alternativa, control de calidad completo, imágenes de alta resolución, mediciones de potencia estándar, módulos fotovoltaicos, rasgos característicos, cámaras convencionales, distribución dimensional, excelentes posibilidades
• Keywords:different thin film module technologies, alternative excitation source, complete quality control, high resolution images, standard power measurements, pv modules, characteristic features, conventional cameras, dimensional distribution, excellent possibilities