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Electric Transverse Emissivity of Sinusoidal Surfaces Determined by a Differential Method: Comparison with Approximation of Geometric OpticsEmisividad transversal eléctrica de superficies sinusoidales determinada por un método diferencial: comparación con la aproximación de óptica geométrica

Resumen

En este documento presentamos un estudio numérico del límite de validez de la aproximación geométrica óptica en comparación con un método diferencial establecido de acuerdo con formalismos rigurosos basados en la teoría electromagnética. Los estudios previos muestran que este método se adopta para el estudio de la difracción por superficies rugosas periódicas. Para períodos mucho mayores que la longitud de onda, el mecanismo es análogo a lo que sucede en una cavidad donde un rayo queda atrapado y experimenta un gran número de reflexiones. Para rejillas con un período mucho menor que la longitud de onda, la rugosidad se comporta esencialmente como una capa de transición con un gradiente del índice óptico. Dicha capa reduce la reflexión allí al aumentar la absorción. El código ha sido implementado para la polarización TE. Determinamos mediante los dos métodos, tanto el método diferencial como la aproximación geométrica óptica, la emisividad de superficies cilíndricas de oro y tungsteno con un perfil sinusoidal

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