Resumen

Las microestructuras de los aceros templados y revenidos han sido tradicionalmente exploradas mediante microscopía electrónica de transmisión (TEM, por sus siglas en inglés) en lugar de microscopía electrónica de barrido (SEM) ya que el TEM ofrece la alta resolución necesaria para visualizar los detalles estructurales que controlan las propiedades mecánicas. Sin embargo, los microscopios electrónicos de barrido, además de proporcionar una mayor cobertura de área, son comúnmente más accesibles y económicos de adquirir y operar en comparación con el TEM, y han evolucionado considerablemente en términos de resolución. Este trabajo presenta una comparación detallada de la caracterización de la microestructura de aceros de alta resistencia templados y revenidos mediante técnicas de contraste de canalización de electrones en TEM y SEM. Para ambas técnicas, se llegaron a conclusiones similares en cuanto a la distribución a gran escala de las láminas y placas de martensita, así como a la observación a escala nanométrica de nanotwins y estructuras

• Materias:Matriz de nanotubos Corrosión del acero Reciclaje termoquímico Escaneo láser Microscopio electrónico
• Subjects:Nanotube Matrix Corrosion of steel Thermochemical Recycling Laser scanning Electron microscopy
• Palabras claves:Microestructuras; Aceros templados; Microscopía electrónica de transmisión; Microscopía electrónica de barrido; Propiedades mecánicas
• Keywords:Microstructures; Quenched; Tempered steels; Transmission electron microscopy; Scanning electron microscopy; Mechanical properties