Resumen

El grafeno es un material de especial interés para la implementación de sensores, y el rendimiento final de los dispositivos basados en dicho material suele venir determinado por sus propiedades de ruido de parpadeo. En efecto, el grafeno presenta, con respecto a la inmensa mayoría de los semiconductores ordinarios, un comportamiento peculiar de la densidad espectral de potencia del ruido de parpadeo en función de la densidad de portadores de carga. Mientras que en la mayoría de los materiales el ruido de parpadeo obedece a la ley empírica de Hooge, con una densidad espectral de potencia inversamente proporcional al número de portadores de carga libres, en el grafeno bicapa, y a veces monocapa, se ha observado un comportamiento contraintuitivo, con un mínimo de ruido de parpadeo en el punto de neutralidad de carga. Presentamos una explicación para esta marcada diferencia, explotando un modelo en el que hacemos cumplir tanto la ley de acción de masas como la condición de neutralidad en las fluctuaciones de carga derivadas de fenómenos de atrapamiento/atrape. Aquí, en particular, nos centramos en la comparación entre el grafeno y otros materiales semiconductores, concluyendo que un mínimo de ruido de parpadeo en el punto de neutralidad de carga sólo puede aparecer en presencia de un comportamiento simétrico electrón-hueco, una condición característica del grafeno, pero que no se encuentra en los otros semiconductores de uso común.

• Materias:Biotecnología Minería de datos Redes de sensores Sistema de sensores Tecnología de sensores
• Subjects:Biotechnology Data mining Sensor networks Sensor system Sensor technology
• Palabras claves:punto de neutralidad de la carga, ruido de parpadeo, densidad espectral, ruido de parpadeo de la mayoría de los materiales, densidad de portadores de carga, ley empírica de hooge, potencia del ruido de parpadeo, propiedades del ruido de parpadeo, portadores de carga libres, ley de acción de masas
• Keywords:charge neutrality point, flicker noise, spectral density, most materials flicker noise, charge carrier density, empirical hooge law, flicker noise power, flicker noise properties, free charge carriers, mass action law