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Artículo

Contribution of electron microscopy to the study of sealing processes in oxalic anodised aluminiumContribución de la microscopía electrónica al estudio de los procesos de sellado en aluminio anodizado oxálico

Resumen

La microscopía electrónica de transmisión (MET) de los recubrimientos anódicos revela una subestructura en la que se diferencian claramente tres regiones: una banda muy fina en los límites hexagonales de las células; las paredes celulares contaminadas con aniones procedentes del baño de anodización; y la alúmina hidratada que rellena los poros con una cierta cantidad de agua retenida. La microscopía electrónica de barrido (SEM) parece ser una herramienta muy adecuada para observar, en la superficie y a niveles más internos, los cambios estructurales asociados a cada grado de sellado. Ambos tipos de microscopía electrónica permiten visualizar las distintas etapas de los complejísimos mecanismos de sellado y envejecimiento determinados indirectamente por técnicas gravimétricas y electroquímicas.

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  • Idioma:Inglés
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Información del documento

  • Titulo:Contribution of electron microscopy to the study of sealing processes in oxalic anodised aluminium
  • Autor:Bartolomé, Mª J.; López, V.; Escudero, E.; González, J. A.
  • Tipo:Artículo
  • Año:2007
  • Idioma:Inglés
  • Editor:Centro Nacional de Investigaciones Metalúrgicas
  • Materias:Acetamida
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