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Correlation between Formic Acid Oxidation and Oxide Species on Pt(Bi)/GC and Pt/GC Electrode through the Effect of Forward Potential Scan LimitCorrelación entre la Oxidación del Ácido Fórmico y las Especies de Óxido en el Electrodo de Pt(Bi)/GC y Pt/GC a través del Efecto del Límite de Exploración del Potencial de Avance

Resumen

Siguiendo trabajos anteriores de nuestro laboratorio, se realizaron nuevos experimentos sobre el comportamiento electroquímico en la oxidación del ácido fórmico en electrodos de Pt(Bi)/GC y Pt/GC electrodepositados, con el fin de examinar el efecto del aumento sucesivo del límite de barrido del potencial de avance. La correlación entre la oxidación del ácido fórmico y las especies de óxido en el electrodo de Pt(Bi)/GC con aumentos del límite de barrido del potencial de avance se basa en la dependencia del potencial de pico de retroceso de la corriente de pico de retroceso. La dependencia obtenida revela la influencia del Bi para los límites de barrido de hasta 0,8 V. Dado que el electrodo Pt(Bi)/GC está compuesto por un núcleo de Bi ocluido por Pt y una capa superficial de óxido de Bi, el comportamiento observado se explica a través de la influencia del óxido metálico superficial en la formación más fácil de especies OHad. No obstante, la influencia de la modificación electrónica de los átomos superficiales de Pt por el Bi subyacente está presente y conduce a una adsorción más fuerte del OH sobre el Pt. En los límites de barrido de potencial de avance más altos (a partir de 0,8 V), el Pt tiene un papel dominante en la oxidación del HCOOH.

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