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Growth of Zinc Oxide Nanorods with the Thickness of Less than or Equal to 1 μm through Zinc Acetate or Zinc Nitrate for Perovskite Solar Cell ApplicationsCrecimiento de nanorods de óxido de zinc con un espesor inferior o igual a 1 μm mediante acetato o nitrato de zinc para aplicaciones en células solares de perovskita

Resumen

Se fabricaron matrices de nanorods (NR) de óxido de zinc (ZnO) en dirección del eje vertical mediante el método en dos etapas de deposición de la capa semilla y crecimiento de los NR. La capa semilla se aplicó mediante recubrimiento por rotación con una repetición de tres veces (n) y velocidad de rotación (v) a 3000 rpm. Después de que la capa semilla hubiera crecido, los NR de ZnO se cultivaron con una solución de crecimiento hecha combinando una fuente de zinc con una fuente de hidróxido. Había dos fuentes de zinc diferentes, es decir, acetato de zinc deshidratado y nitrato de zinc hexahidratado y, para comparar, el acetato de zinc (ZA) y el nitrato de zinc (ZN) se combinaron cada uno con la misma fuente de hidróxido, hexametilentetramina (HMT). Posteriormente, las soluciones de crecimiento se procesaron por el método de deposición en baño químico (CBD) utilizando una máquina de baño de agua. El método CBD se inició a temperatura ambiente hasta alcanzar la temperatura designada a 85°C. En ese momento, se calculó el tiempo de crecimiento a partir de la condición de cero minutos. Se comprobó que los NR de ZnO ya habían crecido a un grosor de unos 100 nm tanto para las fuentes ZA como ZN. El tiempo de crecimiento varió a los 15, 60, 90 y 120 minutos después del punto cero-minuto. Utilizando dos fuentes de zinc separadas e independientes mientras crecían los NR de ZnO en distintos periodos de crecimiento, se controlaron varios grosores de NR de ZnO. Según un artículo de Lee et al., el menor grosor de los NR de ZnO mejoró las propiedades de transferencia de carga de las células solares de perovskita (PSC) porque se redujo la resistencia en serie entre las interfaces ZnO/perovskita. Se observaron imágenes de microscopía electrónica de barrido (SEM) para analizar la forma morfológica de los NRs de ZnO. Se caracterizaron los perfiles de difracción de rayos X (DRX) para obtener los datos de cristalinidad de los NR de ZnO. Se realizó un análisis de la anchura completa a la mitad del máximo (FWHM) en el pico (002) del ZnO para calcular el tamaño del cristal del pico. A partir de los resultados, los tamaños de cristalito más pequeños para los NR de ZnO crecidos a partir de fuentes ZA y ZN fueron de 10,70 nm y 19,29 nm, respectivamente, que serían las condiciones más adecuadas para la aplicación de PSC.

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