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Growth and Characterization of-Plane GaN Thin Films Grown on -LiAlO (100) SubstratesCrecimiento y caracterización de láminas delgadas de GaN crecidas sobre sustratos de -LiAlO (100)

Resumen

Se crecieron películas delgadas de GaN en plano - en sustratos de LiAlO bajo diferentes relaciones de flujo de N/Ga mediante epitaxia por haces moleculares asistida por plasma. Se demostró un crecimiento anisotrópico del GaN en plano - en función de la relación de flujo de N/Ga. A medida que la relación de flujo de N/Ga disminuía al aumentar el flujo de Ga, la superficie de GaN tendía a tener una morfología plana con rayas a lo largo del 110. Según el análisis de difracción de rayos X de alta resolución, se observó LiGaO en la interfaz entre el GaN y el sustrato de LiAlO. La formación de LiGaO influiría en la morfología superficial y la calidad cristalina.

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Información del documento

  • Titulo:Growth and Characterization of-Plane GaN Thin Films Grown on -LiAlO (100) Substrates
  • Autor:Lin, Yu-Chiao; Lo, Ikai; Shih, Hui-Chun; Chou, Mitch M. C.; Schaadt, D. M.
  • Tipo:Artículo
  • Año:2017
  • Idioma:Inglés
  • Editor:Hindawi
  • Materias:Electrodos Nanocompuestos Nanomanipulación
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