Resumen

El enfoque convencional para detectar el defecto interno de un componente necesita sensores para marcar las posiciones cero, lo cual es consumidor de tiempo y disminuye la eficiencia de detección. En este estudio, propusimos un enfoque novedoso que utiliza la espectroscopía espacial para detectar defectos internos de objetos sin sensores de posición cero. Específicamente, se analiza la onda de variación espacial de la distancia entre la fuente de detección y la superficie del objeto, a partir de la cual se determina un ciclo periódico con enfoques correlativos. Además, se adopta un método de wavelet para reducir el ruido de la señal de distancia periódica. Este enfoque es validado mediante la detección por ultrasonido de un componente con sección transversal redonda y forma elíptica en el eje. Los resultados experimentales demuestran que este enfoque ahorra significativamente el tiempo empleado en la evaluación de un ciclo completo y mejora la eficiencia de detección de defectos internos en el componente. El enfoque puede ser ampliado a otros métodos físicos para la detección no invasiva de defectos internos, como la espectroscopía óptica o la exploración por rayos X, y puede ser utilizado para medios híbridos, como tejidos biológicos.

• Materias:Espectroscopia Nanocompuestos Oxidación electrolítica Espectrometría de masas Parámetros cinéticos
• Subjects:Spectroscopy Nanocomposites Electrolytic oxidation Mass spectrometry Kinetic parameters
• Palabras claves:Enfoque; Defecto interno; Espectroscopia espacial; Sensores; Eficacia de detección; Ultrasonidos
• Keywords:Approach; Internal defect; Spatial spectroscopy; Sensors; Detecting efficiency; Ultrasound