Resumen

Este trabajo presenta un nuevo esquema de detección y aislamiento de fallos para tratar simultáneamente fallos aditivos y paramétricos. El nuevo diseño integra un sistema de detección de fallos aditivos basado en (Castillo y Zufiria, (2009)) y un nuevo esquema de detección y aislamiento de fallos paramétricos inspirado en (Münz y Zufiria, (2008)). Se demuestra que los esquemas existentes hasta el momento no se comportan correctamente cuando se producen simultáneamente fallos aditivos y paramétricos; para resolver el problema se propone un nuevo esquema integrado. Se presentan resultados de simulación por ordenador que confirman los estudios teóricos.

• Materias:Análisis Matemático Álgebra Ingeniería Matemática aplicada Lógica matemática
• Subjects:Mathematical Analysis Algebra Engineering Applied Mathematics Mathematical logic
• Palabras claves:esquema de aislamiento, fallos paramétricos, nueva detección paramétrica de fallos, resultados de simulación por ordenador, detección aditiva de fallos, nueva detección de fallos, zufiria, nuevo diseño, estudios teóricos, castillo
• Keywords:isolation scheme, parametric faults, new parametric fault detection, computer simulation results, additive fault detection, new fault detection, zufiria, new design, theoretical studies, castillo