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Higher-Resolution Determination of Zero-Offset Common-Reflection-Surface Stack ParametersDeterminación de alta resolución de los parámetros de apilamiento de superficies de reflexión común con desplazamiento cero

Resumen

Desarrollamos un método de mayor resolución para la estimación de los tres parámetros de tiempo de recorrido que se utilizan en el método de apilamiento 2D con desplazamiento cero y Reflexión Común-Superficie. El principio subyacente en este método es sustituir la medida de coherencia realizada mediante semblanza por la del pseudoespectro MUSIC (clasificación de señales múltiples) que utiliza la estructura de eigenes de la matriz de covarianza de los datos. El rendimiento de las dos técnicas de estimación de parámetros (semblanza y MUSIC) se investigó utilizando datos sintéticos de difracción y reflexión sísmica corrompidos con ruido blanco gaussiano, así como un conjunto de datos de campo de radar de penetración terrestre (GPR) multioffset. Los parámetros estimados empleando MUSIC demostraron ser superiores a los de semblance.

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