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Effect of Low-Frequency Alternative-Current Magnetic Susceptibility in Ni80Fe20 Thin FilmsEfecto de la Susceptibilidad Magnética de Corriente Alterna de Baja Frecuencia en Películas Delgadas de Ni80Fe20

Resumen

Los resultados de la difracción de rayos X (DRX) indican que las películas delgadas de NiFe tenían una estructura cúbica centrada en la cara (FCC). El tratamiento posterior al recocido aumentó la cristalinidad de las películas de NiFe con respecto a las obtenidas a temperatura ambiente (TA), lo que sugiere que la cristalización del NiFe produce una texturización FCC (111). Los tratamientos posteriores al recocido aumentan la cristalinidad respecto a la obtenida a TA. Este trabajo se centra en el valor máximo de la susceptibilidad magnética de corriente alternativa (χac) de las láminas delgadas de NiFe con frecuencia de resonancia (fres) a bajas frecuencias de 10 Hz a 25000 Hz. Estos resultados demuestran que la χac de las láminas delgadas de NiFe aumentaba con el tratamiento posterior al recocido y el aumento del espesor. La textura NiFe (111) sugiere que la relación entre la anisotropía magneto-cristalina y el valor máximo de χac con la frecuencia de resonancia óptima (fres) aumentó la sensibilidad de espín a fres óptima. Los resultados obtenidos en las tres condiciones revelaron que el valor máximo de χac y la fres óptima de una película delgada de NiFe de 1000 Å de espesor son de 3,45 Hz y 500 Hz, respectivamente, tras el postendurecimiento a TA=250°C durante 1 h. Esto sugiere que una película delgada de NiFe de 1000 Å postendurecida a TA=250°C es adecuada para aplicaciones de sensores de calibre y transformadores a bajas frecuencias.

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