Resumen

Se utilizó la técnica de fluorescencia en estado estacionario (SSF) junto con la técnica UV-visible (UVV) y el microscopio de fuerza atómica (AFM) para estudiar la formación de películas a partir de partículas de látex de poliestireno (PS) nanométricas (320 nm) recubiertas de TiO2. Se estudiaron los efectos del espesor de la película y del contenido de TiO2 sobre la formación de la película y las propiedades estructurales de los compuestos PS/TiO2. Para ello, se prepararon dos conjuntos diferentes de películas de PS con espesores de 5 y 20 μm a partir de partículas de PS marcadas con pireno (P) y se cubrieron con varias capas de TiO2 mediante el método de recubrimiento por inmersión. A continuación, estas películas se recocieron a temperaturas elevadas por encima de la temperatura de transición vítrea (Tg) del PS en el intervalo de 100-280°C. Se midieron la intensidad de emisión de fluorescencia, Ip del P y la intensidad de luz transmitida, Itr, después de cada paso de recocido para controlar las etapas de formación de la película. Los resultados mostraron que la formación de películas a partir de látex de PS se produce en la superficie superior de los compuestos PS/TiO2 y, por tanto, se desarrolló independientemente del contenido de TiO2 para ambos conjuntos de películas. Sin embargo, se observó que la morfología de la superficie de las películas variaba con el contenido de TiO2 y el grosor de la película. Tras la eliminación del PS, las películas delgadas presentan una estructura porosa bastante ordenada, mientras que las películas gruesas muestran una estructura no porosa.

• Materias:Biotecnología Análisis electroquímico Nanotecnología Nanopartículas Nanotubos
• Subjects:Biotechnology Electrochemical analysis Nanotechnology Nanoparticles Nanotubes
• Palabras claves:formación de películas, contenido de tio2, compuestos de tio2, espesor de películas, intensidad de emisión de fluorescencia, microscopio de fuerza atómica, temperatura de transición vítrea, tio2, películas, técnica
• Keywords:film formation, tio2 content, tio2 composites, film thickness, fluorescence emission intensity, atomic force microscope, glass transition temperature, tio2, films, technique