Resumen

Se prepararon películas delgadas de Ca x Zn ( 1 - x ) Al 2 O 4 ( x = 0,00, 0,05, 0,10, 0,15, 0,20, 0,25 y 0,30) mediante un método de sol gel. Los patrones de DRX mostraron los picos característicos del (Ca/Zn)Al2O4 con el patrón estándar del cúbico centrado en la cara (fcc). La adición de Ca disminuyó la constante de red de 14,6 nm a 23,2 nm. El bandgap óptico de la película delgada no dopada se encontró en 3,84 eV mientras que para el Ca dopado se observó en 3,50 a 3,73 eV. La sustitución de Zn2 por Ca2 en las películas delgadas de ZnAl2O4 aumentó el tamaño de los cristalitos, el tamaño del grano y la morfología de la superficie, lo que evidentemente afecta a la densidad y a la constante dieléctrica. Las películas delgadas de Ca x Zn 1 - x Al 2 O 4 se caracterizaron a una frecuencia de 20 a 1 MHZ para determinar la constante dieléctrica ε r y el factor de calidad sin carga Q u utilizando un espectrómetro LCR. Se puede observar que el espécimen que utiliza Ca0,25Zn0,75Al2O4 posee ε r ~ 10,41 y Q u ~ 5770, lo que se sugiere como material candidato para aplicaciones de ondas milimétricas. Por lo tanto, se sugiere esta cerámica como material candidato para antenas de parche de GPS.

• Materias:Propiedades fisicoquímicas Materiales compuestos Fotocatálisis Pavimentos Sistema cuántico
• Subjects:Chemicophysical properties Composite materials Photocatalysis Floors Quantum system
• Palabras claves:película delgada, material candidato, factores de calidad sin carga, adición de ca, métodos de sol gel, sustitución de zn2, patrón de cara, antena de parche gps, película delgada no dopada, morfología superficial
• Keywords:thin film, candidate material, unloaded quality factors, addition of ca, sol gel methods, substitution of zn2, pattern of face, gps patch antenna, undoped thin film, surface morphology