Resumen

Se demuestra un enfoque riguroso y coherente para desarrollar un modelo de la estructura 4M (la estructura de cuatro medios de una película sobre un sustrato de espesor finito). Las ecuaciones generales obtenidas para los espectros de reflectancia y transmitancia de la estructura 4M se simplifican empleando un procedimiento del denominado promediado de dispositivos para reducirlas a una forma sucinta conveniente para el procesamiento de espectros experimentales de las estructuras con un sustrato grueso. Las nuevas ecuaciones derivadas se aplican a dos casos especiales: (i) una película arbitraria sobre sustratos altamente absorbentes y (ii) una película ligeramente absorbente sobre sustratos transparentes. Los espectros de reflectancia y transmitancia representados de forma simplificada (con el dispositivo de promediado) tienen una aplicación práctica para determinar el espesor de la película y las constantes ópticas a partir de espectros experimentales mediante las técnicas conocidas.

• Materias:Propagación de ondas Óptica Microscopía Fibra óptica Interferometría
• Subjects:Wave propagation Optics Microscopy Optical fibres Interferometry
• Palabras claves:Estructura M, espectros experimentales, espectros de transmitancia, dispositivo, reflectancia, película absorbente, sustratos absorbentes, película arbitraria, enfoque coherente, espesor de la película
• Keywords:M structure, experimental spectra, transmittance spectra, device, reflectance, absorbing film, absorbing substrates, arbitrary film, consistent approach, film thickness