La distribución lognormal se utiliza de manera más extensa en el ámbito del análisis de confiabilidad para modelar los patrones de vida-falla de numerosos dispositivos. En este artículo se presenta una forma genérica de la distribución lognormal que puede aplicarse para modelar muchos problemas de ingeniería que involucran indeterminaciones en estudios de confiabilidad. La distribución sugerida es especialmente efectiva para modelar datos que son aproximadamente simétricos o sesgados hacia la derecha. En este artículo se han derivado las propiedades matemáticas clave de la propuesta distribución lognormal neutrosófica (NLD). A lo largo del estudio, se utilizan ejemplos detallados de datos de pruebas de vida para confirmar el desarrollo matemático del modelo neutrosófico propuesto. Se abordan las ideas principales de los términos de confiabilidad, incluyendo el tiempo medio de falla neutrosófico, la tasa de peligro neutrosófica, la tasa de falla acumulativa neutrosófica y la función de confiabilidad neutrosófica, con
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