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The Role of Edge Dislocations on the Red Luminescence of ZnO Films Deposited by RF-SputteringEl papel de las dislocaciones de borde en la luminiscencia roja de las películas de ZnO depositadas por RF-sputtering

Resumen

La existencia de defectos extendidos (es decir, dislocaciones) en semiconductores inorgánicos, como GaN o ZnO, responsables de picos de emisión amplios en el análisis de fotoluminiscencia sigue sin resolverse. Las posibles asignaciones de estas bandas de luminiscencia siguen siendo objeto de debate. En este estudio, se presentan dos muestras diferentes de óxido de zinc, crecidas bajo diferentes presiones parciales de oxígeno y temperaturas de sustrato. Las propiedades epitaxiales y estructurales se analizaron mediante técnicas de difracción de rayos X y microscopía electrónica de transmisión. Éstas confirman que las capas son monofásicas con una buena calidad cristalina. No obstante, se observó una densidad diferente de dislocaciones de hilo, con una mayor contribución de las dislocaciones de borde. Se ha utilizado la espectroscopia de fotoluminiscencia para investigar las propiedades ópticas. Los espectros de luminiscencia en estado estacionario realizados a 14 K evidenciaron la recombinación de excitones ligados al donante y bandas de emisión verde y roja profundas. La banda roja, con un máximo a 1,78 eV, es más intensa en la muestra cultivada a menor presión de oxígeno, que también muestra una mayor densidad de dislocaciones enhebradas. A partir de la dependencia de la temperatura y la densidad de excitación de la banda roja, se propuso un modelo de recombinación de pares donante-aceptante, en el que las vacantes de hidrógeno y zinc son firmes candidatas a especies donante y aceptora, respectivamente.

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