Resumen

Las propiedades de emisión de campo de las nanoprotrusiones de LaS denominadas nanodomos, formadas por deposición láser pulsada sobre películas porosas de alúmina anódica, se han analizado con microscopía de emisión de campo de ánodo de barrido. El voltaje necesario para producir una corriente de emisión de campo dada es ∼3,5 veces menor en los nanodomos que en las películas delgadas. Asumiendo la misma función de trabajo para las películas delgadas de LaS y las nanoprotrusiones, es decir, ∼1 eV, se extrae un factor de mejora de campo de ∼5,8 para los emisores nanodomo a partir de los gráficos de Fowler-Nordheim de los datos de emisión de campo. Esto se correlaciona bien con la relación de aspecto de los nanodomos más altos observados en las mediciones de micrografía de fuerza atómica.

• Materias:Análisis electroquímico Nanotecnología Nanopartículas Bioingeniería Nanoestructuras Nanocompuestos Sistema de nanopartículas
• Subjects:Electrochemical analysis Nanotechnology Nanoparticles Bioengineering Nanostructures Nanocomposites Nanoparticle system
• Palabras claves:películas delgadas, microscopía de emisión de campo anódica, medidas de micrografía de fuerza atómica, películas porosas de alúmina anódica, corriente de emisión de campo, datos de emisión de campo, propiedades de emisión de campo, factor de aumento de campo, misma función de trabajo, nanodomos
• Keywords:thin films, anode field emission microscopy, atomic force micrograph measurements, porous anodic alumina films, field emission current, field emission data, field emission properties, field enhancement factor, same work function, nanodomes