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Raman Spectroscopy of DLC/a-Si Bilayer Film Prepared by Pulsed Filtered Cathodic ArcEspectroscopía Raman de la película bicapa de DLC/a-Si preparada por arco catódico filtrado pulsado

Resumen

Se depositó una película bicapa de DLC/a-Si sobre un sustrato de germanio. La capa de a-Si, una capa semilla, se depositó en primer lugar sobre el sustrato mediante pulverización catódica por magnetrón de corriente continua y, a continuación, la capa de DLC se depositó sobre la capa de a-Si mediante el método de arco catódico filtrado pulsado. Las películas bicapa se depositaron con diferentes relaciones de espesor DLC/a-Si, incluyendo 2/2, 2/6, 4/4, 6/2, y 9/6. El efecto de las relaciones de espesor DLC/a-Si sobre el contenido sp3 del DLC se analizó mediante espectroscopia Raman. Los resultados muestran que la capa a-Si no tiene ningún efecto sobre la estructura de la película de DLC. Además, el desplazamiento superior del número de onda G y la disminución de ID/IG informan de que el contenido sp3 de la película es directamente proporcional al espesor del DLC. El gráfico modificado a partir del modelo de tres etapas informa de que las características estructurales de las películas bicapa de DLC/a-Si se sitúan cerca del carbono amorfo tetraédrico. Esta información puede ser importante para analizar y desarrollar películas protectoras bicapa para futuras unidades de disco duro.

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