Resumen

La configuración de enlace atómico de las películas de diamante ultrananocristalino (UNCD)/carbono amorfo hidrogenado (a-C:H) preparadas mediante ablación por láser pulsado de grafito en atmósfera de hidrógeno se examinó mediante espectroscopia de estructura fina de absorción de rayos X de borde cercano. Los espectros medidos se descompusieron con espectros de componentes simples y se analizaron en detalle. En comparación con las películas a-C:H depositadas a temperatura ambiente del sustrato, las películas UNCD/a-C:H y de carbono amorfo no hidrogenado (a-C) depositadas a una temperatura del sustrato de 550∘C mostraron picos π∗ y σ∗C≡C más intensos. A temperaturas de sustrato elevadas, la formación de los enlaces π∗ y σ∗C≡C es mayor, mientras que la formación de los enlaces σ∗C-H y σ∗C-C es menor. La película UNCD/a-C:H mostró un pico σ∗C-C mayor que la película a-C depositada a la misma temperatura de sustrato elevada en vacío. Creemos que el intenso pico σ∗C-C es evidentemente responsable de la existencia de cristalitos UNCD en la película.

• Materias:Análisis electroquímico Nanopartículas Nanoestructuras Nanocompuestos Sistema de nanopartículas Nanotubos
• Subjects:Electrochemical analysis Nanoparticles Nanostructures Nanocomposites Nanoparticle system Nanotubes
• Palabras claves:temperatura, pico c, formación de enlaces c, existencia de cristalitos uncd, configuración de enlaces atómicos, espectroscopia de estructura fina, carbono amorfo no hidrogenado, mismo sustrato elevado, espectros de componentes simples, formación de enlaces σ∗c≡c.
• Keywords:temperature, c peak, c bonds formation, uncd crystallites existence, atomic bonding configuration, fine structure spectroscopy, nonhydrogenated amorphous carbon, same elevated substrate, simple component spectra, σ∗c≡c bonds formation