Se estudió la hemocompatibilidad de las películas de TiO2 dopadas con La2O3 con diferentes concentraciones preparadas por sputtering de radiofrecuencia (RF). Las microestructuras y la compatibilidad sanguínea de las películas de TiO2 se investigaron mediante microscopía electrónica de barrido (SEM), espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) y espectroscopia de absorción óptica UV-visible, respectivamente. Con el aumento de las concentraciones de La2O3, las películas de TiO2 se suavizan y el tamaño del grano se reduce. Mientras tanto, la brecha de banda de las muestras aumenta de 2,85 a 3,3 eV con el aumento del contenido de La2O3 en las películas de TiO2 de 0 a 3,64%. Las películas de TiO2 dopadas con La2O3 presentan propiedades semiconductoras de tipo n debido a la existencia de Ti2 y Ti3 . Se analizó y discutió el mecanismo de hemocompatibilidad de la película de TiO2 dopada con La2O3.
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