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Study of Electrical Conductivity and Microcosmic Structure of Tetrahedral Amorphous Carbon Films Doped by BoronEstudio de la conductividad eléctrica y de la estructura microcósmica de películas tetraédricas de carbono amorfo dopadas con boro

Resumen

En este trabajo se estudia un tipo de película de carbono amorfo tetraédrico (ta-C) dopado con boro (ta-C:B). La película de ta-C se prepara mediante la técnica de arco de vacío catódico filtrado (FCVA) y luego se dopa con boro mediante el método de difusión térmica. A continuación, se caracterizan la estructura microcósmica y la conductividad eléctrica del ta-C mediante el método de espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS) y el método de cuatro sondas, respectivamente. Los resultados muestran que la conductividad del ta-C:B aumenta significativamente; la resistividad disminuye de 1,5 × 106 Ω-cm a 350 Ω-cm aproximadamente, mientras que el porcentaje de enlaces sp3 en la película pasa del 87% al 60 pproximadamente. Esto significa que este tipo de película conservó las características mecánicas de las películas de carbono tipo diamante (DLC) y mejoró en gran medida las características eléctricas al mismo tiempo.

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