Resumen

La curva de fuerza del microscopio de fuerza atómica (AFM) se ha utilizado ampliamente para determinar las propiedades mecánicas de los materiales debido a su alta resolución, que permite medir fuerzas muy bajas (piconewton) y distancias tan pequeñas como nanómetros. Sin embargo, a veces la curva de fuerza resultante obtenida del AFM es ligeramente diferente de las obtenidas de una curva de fuerza de nanoindentación más típica debido a la histéresis del piezoeléctrico del AFM. En este estudio se evaluaron las propiedades nanomecánicas de una capa tratada con poliéter éter cetona sulfonado (SPEEK) o con poliéter éter cetona desnudo (PEEK) mediante nanoindentación por AFM y un sistema de ensayo nanomecánico para sondear el posible error de las propiedades nanomecánicas calculadas debido a la histéresis piezoeléctrica del AFM. Los resultados mostraron que la histéresis piezoeléctrica del AFM causaba el error en las propiedades nanomecánicas calculadas de los materiales.

• Materias:Electroquímica Corriente dinámica híbrida Termomecánica Sistemas ciberfísicos
• Subjects:Electrochemistry Hybrid dynamic current Thermomechanics Cyber-physical systems
• Palabras claves:AFM piezoeléctrico, propiedades nanomecánicas, histéresis, poliéter éter cetona desnuda, curva de fuerza de nanoindentación típica, microscopio de fuerza atómica, sistema de ensayo nanomecánico, poliéter éter cetona, curva de fuerza resultante, AFM
• Keywords:AFM piezo, nanomechanical properties, hysteresis, bare polyether ether ketone, typical nanoindentation force curve, atomic force microscope, nanomechanical test system, polyether ether ketone, resultant force curve, AFM